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产品图片	产品名称/型号	产品简介
	TESA UNIMASTER大尺寸直接测量仪	TESA UNIMASTER 与内径千分尺原理近似,适于内外大尺寸的直接检测。是以两点接触式测工件，配备内置测杆只需增加必要的加长杆就可测量应用范围内的任－尺寸。精确、结构稳固和易于操作的特性，在水平或垂直方向可以恒定测力进行测量，结合杠杆指示表的使用可清晰显示顶点的尺寸数据，由于接长杆的弯曲变形和热膨胀很小、可忽略不计的特性保证了测量的稳定性。
	MICROBEVEL 1电子倾斜仪	用于精密检测小倾斜度，如平板的平面度测量以及机械上的几何特征测量。
	ClinoBEVEL1电子倾斜仪	通用的电子倾斜仪。可按直接和比较模式检测倾斜度。
	关节臂式磁性表座	配备关节臂的磁性表座，操作方便灵活。
	ALESOMETER数显三爪内径千分尺	拥有三线接触的三点内测分厘卡，TESA ALESOMETER的电子式三点式内径分厘卡都适合于量测通孔、盲孔及浅孔之工件。
	MICRO-HITE DCC 454/474TESA自动型三坐标三维测量仪器	经济型数控测量机新标准！
	06030079/06030080/ 06030081/ 06030082 球测量面千分尺	单球测量面千分尺：测量管壁厚度双：测砧和测杆上的球面用于测量工件凹表面，例如滚珠轴承沟道或管壁测量。
	06030062 /06030063/06030064/06030065 螺纹测量千分尺	螺纹测量千分尺用于螺纹中径检测– 测砧具有可调整夹持器用来固定具备V 面的测量头– 用螺丝调节器进行调整和锁定– 测量轴上有锥型测量头的固定孔。
	06030087 /06030088 /06030093/06030094V型测砧千分尺（槽型刀千分尺）	带棱柱型测量面的千分尺测量奇数槽工件如铣刀、丝攻、钻头和花键轴，又如奇数多面体等。确定圆柱形表面的圆度误差，棱柱型测砧的夹被设计来测量有3 或5 个槽的工件。
	072108669 /072108691 /072108722 MICRO - ETALON 225杠杆千分尺	以移动的测砧和内置的刻度盘指示表为特色-为小零件系列进行比较测量的理想选择一标称尺寸设置千分尺上，偏差在刻度盘指示器上读到-由按钮操作可回缩的测砧-用于微调整的可转动刻度盘，带有可调整公差标记
	06030034/06030035/06030036/06030037 MICROMASTER小测量面千分尺	小测量面千分尺用于测量凹槽，滑槽、键槽和其他难以达到测量的点。小测量面千分尺特别适合精加工小零件的测量。
	06030020 /06030021/06030022TESA MICROMASTER电子数显卡尺	采用获得的新的TESA 测量系统“capa μ 系统”? 量程30 毫米? 大的易读数字显示屏? 型号：– EASY 具备单一功能键– IP54 防水保护和IP54 RS 附加RS 232 接口06030030 06030031 06030032
	00119046ETALON MICRORAPID外径千分尺	ETALON [4?D 0.01mm
	072116406ETALON MICRORAPID精密外径千分尺	每圈1 毫米，高精密千分尺– 快速的，精确认读– 没有半毫米的认读误差– 微分筒每圈100刻度和1 毫米螺距– 游标尺认读达0.001 毫米。
	00517025/00510041TESA游标卡尺	TESA游标卡尺具备良好性价比的卡尺
	00530300 /00530301 /00530302 /00530303 TESA CAL IP 67数显卡尺	来自TESA 技术"magna μ 系统"新型电子数显卡尺－该类型测量工具中的Z高安全防护级别－对液体和金属颗粒的渗透提供*保护。TESA 的磁栅技术保证可靠和高精度－瑞士制造
	tesa rugosurf 90g粗糙度检测仪/表面粗糙度测试仪	小尺寸、多功能、极易使用的粗糙度仪，很适合于在车间或测量实验室进行高精度测量。符合ISO 4287, 12085(CNOMO), 13565, DIN 4776和JIS B060:2001标准的参数测量。
	tesa rugosurf 10粗糙度测试仪/表面粗糙度测量仪	06930010 瑞士RUGOSURF 10便携式表面粗糙度仪结构牢固,易于使用的粗糙度仪，广泛使用于生产车间、收货检验或测量实验室等；为满足各种不同形状的工件表面的粗糙度检测,有大量附件可供选择,可在任何位置放置,进行小孔的凹糟的测量。
	TESA-VISIO 200二维影像测量仪	二维影像测量仪 TESA VISIO 200 小量程的光学影像测量仪采用了花岗岩底座保证了高的稳定性，X 轴快速释放开关可用于X 轴的快速移动。
	TESA-μHITE测高仪00730049	紧凑的设计，包括测量平台，传感器按Abbe 原理同轴安装测量或相对于高度规轴线偏置测头。平面、平行面或圆柱面的几何体，其内尺寸、外尺寸、高度、深度、台阶及距离尺寸的长度测量。自动探测孔或轴的顶点。可存储“Z大”、“Z小值”以及“Z大-Z小值"之间的差值计算。系统通过不同的配置选择可以测量直线度、平面度、平行度或轴向和径向跳动等

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